
Ultrasuoni · Spessori minimi
Perché servono ultrasuoni ad alta frequenza per i film sottili
Il ricorso agli ultrasuoni ad alta frequenza per film sottili nasce da un limite fisico preciso: la lunghezza d’onda dell’impulso non può essere molto maggiore dello spessore da misurare, altrimenti gli echi si sovrappongono e diventano indistinguibili. Alzando la frequenza si accorcia la lunghezza d’onda e si guadagna la risoluzione necessaria a separare echi ravvicinati, con il compromesso di una minore capacità di penetrazione. Nella pratica gli ultrasuoni ad alta frequenza per film sottili si abbinano alla tecnica multi-eco, che misurando fra echi successivi migliora ulteriormente l’accuratezza su strati e pareti di spessore minimo.
Gli ultrasuoni ad alta frequenza per film sottili permettono di misurare lo spessore di strati, rivestimenti e pareti molto sottili, dove le frequenze ultrasoniche normali non riescono a distinguere le eco. Nella misura di spessore a ultrasuoni la frequenza determina la lunghezza d’onda e quindi la capacità di risolvere spessori piccoli: più alta è la frequenza, più corta è l’onda, e più sottile è lo strato che si riesce a misurare. Per questo la misura di film sottili, pareti di poche decine o centinaia di micrometri, richiede sonde e strumenti ad alta frequenza, spesso abbinati alla tecnica multi-eco. Capire il legame tra frequenza e risoluzione aiuta a scegliere la sonda giusta e a spingere la misura ultrasonica verso spessori molto piccoli.
Questa pagina spiega perché la frequenza limita lo spessore misurabile, perché l’alta frequenza risolve i film sottili, e come la tecnica multi-eco aiuta la precisione. È una guida per il tecnico di misura di spessore.
Frequenza, lunghezza d’onda e risoluzione
La chiave della misura sui film sottili è il legame tra frequenza e lunghezza d’onda. Un’onda ultrasonica ha una lunghezza d’onda che dipende dalla velocità del suono nel materiale e dalla frequenza: a parità di materiale, aumentando la frequenza la lunghezza d’onda diminuisce. Per distinguere l’eco dalla parete opposta in uno strato sottile serve che l’impulso ultrasonico sia abbastanza «corto» rispetto allo spessore, altrimenti l’eco di ritorno si sovrappone a quella di partenza e non si riesce a separarle. Con un’onda più corta, cioè a frequenza più alta, l’impulso è più breve e la risoluzione migliora: si riescono a separare eco vicine e quindi a misurare spessori più piccoli. È per questo che la misura di film sottili richiede frequenze elevate, mentre per spessori grandi bastano frequenze più basse, che tra l’altro penetrano meglio.

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Perché l’alta frequenza risolve i film sottili
Su uno strato molto sottile, con la frequenza normale, l’onda entra e torna così in fretta che l’eco di ritorno arriva mentre il trasduttore sta ancora emettendo o è nella zona morta: le due eco non si distinguono e la misura non è possibile. Aumentando la frequenza l’impulso diventa più breve e la zona morta si riduce, così l’eco dello strato sottile emerge distinta e si può leggere il tempo di volo. Questo permette di misurare rivestimenti, film, pareti di componenti sottili, lamierini, che con frequenze basse sarebbero fuori portata. Il prezzo dell’alta frequenza è una minore capacità di penetrare in profondità e una maggiore sensibilità all’attenuazione, per cui l’alta frequenza è ideale per spessori piccoli su materiali poco attenuanti, non per grandi spessori o materiali molto assorbenti. Scegliere la frequenza significa bilanciare risoluzione e penetrazione.
| Frequenza | Effetto |
|---|---|
| Alta | Onda corta, risolve spessori sottili |
| Bassa | Onda lunga, penetra in profondità |
| Film sottili | Richiedono alta frequenza |
La tecnica multi-eco per la precisione
Per aumentare ancora la precisione sugli spessori piccoli si usa la tecnica multi-eco, che misura la distanza tra più eco successive invece che tra emissione e prima eco. Poiché l’onda rimbalza più volte tra le due pareti dello strato, misurando l’intervallo tra due o più eco di fondo si ottiene un valore più stabile e si elimina l’effetto di un eventuale rivestimento superficiale. Combinata con l’alta frequenza, la tecnica multi-eco spinge la misura verso spessori molto sottili con buona ripetibilità. La scelta della sonda ad alta frequenza adatta al materiale, la taratura sulla velocità del suono e un buon accoppiamento restano condizioni indispensabili. Insieme, alta frequenza e multi-eco sono la risposta tecnica alla misura dei film e degli strati sottili.
- Usare l’alta frequenza per risolvere spessori sottili.
- Ricordare che l’alta frequenza penetra meno.
- Abbinare la tecnica multi-eco per la precisione.
- Tarare sulla velocità del suono del materiale.
- Curare l’accoppiamento sonda-materiale.
Limiti e affidabilità
La misura ad alta frequenza sui film sottili ha limiti da conoscere: sotto un certo spessore anche l’alta frequenza non risolve più le eco, e i materiali molto attenuanti riducono la portata. Contano la scelta della sonda, la taratura accurata sui campioni e la stabilità dell’accoppiamento. La superficie di contatto delle sonde ad alta frequenza è delicata e va protetta. Documentare frequenza, sonda, taratura e tecnica usata garantisce misure ripetibili. Conoscere il legame tra frequenza, risoluzione e penetrazione permette di scegliere consapevolmente lo strumento e di ottenere misure affidabili anche sugli spessori più piccoli.
Dalla tecnologia allo strumento: cosa serve in pratica
Questo tema appartiene all’area Ultrasuoni del ramo Tecnologie e principi di misura, ed è collegato al modo multi-eco attraverso il rivestimento. Per la strumentazione il riferimento è il Catalogo prodotti.
Nel catalogo la misura ad alta precisione sugli spessori sottili fa capo agli spessimetri a ultrasuoni, nella famiglia controlli non distruttivi e spessimetri di materiale. Se devi misurare film o strati molto sottili, il modulo di richiesta consente di ricevere un’indicazione mirata.

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Gli strumenti che applicano questa tecnologia
L’alta frequenza sui film sottili la portano le sonde a cristallo singolo, e con esse gli spessimetri di precisione: sono tre modelli, con tre limiti inferiori diversi. Dove il campione è accessibile da entrambi i lati, lo stesso spessore si misura a contatto con uno spessimetro a forcella.

Precisione
Dakota NDT PZX1-DL
Sonde a cristallo singolo da 5 a 20 MHz: il campo di frequenza più alto della gamma. Misura da 0,127 mm sulle materie plastiche con tecnologia ThruPaint™.

Precisione
Dakota NDT PCX8-DL
Misura da 0,15 mm con risoluzione fino a 0,01 mm e memoria da 100.000 letture, con uscita USB e Bluetooth.

Precisione
Dakota NDT Serie PMX
Risoluzione fino a 0,001 mm con A-Scan e B-Scan per separare gli echi ravvicinati di un film sottile o di un laminato. Memoria da 4 GB.

A contatto
Käfer F 1101/30
Spessimetro a forcella per film con lettura 0,001 mm e campo di 1 mm; nella versione -0.1 il campo è 0,1 mm su un solo giro di lancetta, con errore massimo dichiarato di 1,5 µm. Profondità di gola 30 mm, tastatori intercambiabili per fogli, carta, gomma e lamiere.
→ Tutti i modelli, con i dati tecnici del costruttore, nella pagina di catalogo Spessimetri a ultrasuoni, e per la misura a contatto in Spessimetri meccanici a comparatore.
Domande frequenti
Perché la frequenza determina la lunghezza d’onda: più alta è la frequenza, più corta è l’onda e più breve è l’impulso ultrasonico. Su uno strato sottile serve un impulso corto per separare l’eco di ritorno da quella di partenza; con frequenze basse le eco si sovrappongono e non si distinguono. L’alta frequenza riduce la zona morta e permette di risolvere spessori molto piccoli.
L’alta frequenza penetra meno in profondità ed è più sensibile all’attenuazione del materiale. È quindi ideale per spessori piccoli su materiali poco attenuanti, ma non adatta a grandi spessori o materiali molto assorbenti, dove servono frequenze più basse. Scegliere la frequenza significa bilanciare la risoluzione, che cresce con la frequenza, e la penetrazione, che diminuisce.
La tecnica multi-eco misura la distanza tra più eco successive invece che tra emissione e prima eco. Poiché l’onda rimbalza più volte tra le pareti dello strato, misurando l’intervallo tra due o più eco di fondo si ottiene un valore più stabile e si elimina l’effetto di un eventuale rivestimento. Combinata con l’alta frequenza, spinge la misura verso spessori molto sottili con buona ripetibilità.
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